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QNix4200磁性基體測厚儀

更新時間：2018-05-29
瀏覽次數(shù)：1448

QNix4200磁性基體測厚儀
鋼鐵基材: 用于4200
測量范圍: 0-3000um
測量精度: +/- 1um或+/- 3%讀數(shù)）
Z小測量面積: 10x10mm
Z小曲率: 凸半徑 5mm
凹半徑 25mm
Z小基材厚度:0.2mm

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品牌	Qnix/德國尼克斯	價格區(qū)間	面議

QNix4200磁性基體測厚儀

Coating thickness measuring systems
by Automation Dr. Nix

QNix® 4200 –
for measurements on Fe substrate

QNix® 4200 measures on Fe substrate of up to 5,000 µm and offers all advantages of the QNix® 4500.

	測量范圍	集成探頭	電纜探頭
QNix® 4500	Fe 0 - 3.000 µm NFe 0 - 3.000 µm	?	?
QNix® 4500	Fe 0 - 5.000 µm NFe 0 - 3.000 µm	?	?
QNix® 4200	Fe 0 - 5.000 µm	?	?
QNix® 4200	Fe 0 - 3.000 µm	?	?

塑料箱運輸和儲存


QNix® 4500 - 帶集成探頭	QNix® 4500 - 帶電纜探頭	QNix® 4200 - 帶集成探頭	QNix® 4200 - 帶電纜探頭

QNix4200技術參數(shù)
磁性基體(Fe模式)	可以
非磁性基體(NFe模式)	不可以
測量范圍	Fe:0-3000um
顯示精度	0.1um
精度	0-50um:≤±1um
	50-1000um:≤±1.5%讀數(shù)
	1000-3000um≤±3%讀數(shù)
zui小接觸面	10×10mm/QNix4200
zui小曲率半徑	凸面：3mm；凹面：25mm
zui小基體厚度	Fe:0.2mm/NFe:0.05mm
溫度補償范圍	0-60℃
顯示	LCD液晶(帶背光)
探頭	紅寶石固定式
電源	2×1.5V干電池
尺寸	100×60×27mm
重量	110g

鋼鐵基材: 用于4200
測量范圍: 0-3000um
測量精度: +/- 1um或+/- 3%讀數(shù))
zui小測量面積: 10x10mm
zui小曲率: 凸半徑 5mm
凹半徑 25mm
zui小基材厚度:0.2mm
溫度范圍: 0-60度
顯示: LCD
供電形式: 2個1.5V電池
體積: 100X60X27mm
重量: 約110克

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QNix® 4200 –for measurements on Fe substrate

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for measurements on Fe substrate