泰勒Surtronic S-116粗糙度儀經(jīng)銷

• 更新時間：2021-12-15
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泰勒Surtronic S-116粗糙度儀經(jīng)銷
泰勒?霍普森有限公司專業(yè)從事精度表面及其輪廓形狀測量，是*的圓度/圓柱度儀、表面粗糙度輪廓儀、白光干涉表面輪廓儀及超精單點金剛石車床等設備的供應商，總部位于英國萊斯特市，我們提供接觸與非接觸測量方法以滿足多種應用需求，公司產(chǎn)品廣泛應用于現(xiàn)代制造業(yè)及新興產(chǎn)業(yè)，如半導體、硬盤、精密光學、微納米學等。

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泰勒Surtronic S-116粗糙度儀經(jīng)銷
泰勒•霍普森有限公司專業(yè)從事精度表面及其輪廓形狀測量，是的圓度/圓柱度儀、表面粗糙度輪廓儀、白光干涉表面輪廓儀及超精單點金剛石車床等設備的供應商，總部位于英國萊斯特市，我們提供接觸與非接觸測量方法以滿足多種應用需求，公司產(chǎn)品廣泛應用于現(xiàn)代制造業(yè)及新興產(chǎn)業(yè)，如半導體、硬盤、精密光學、微納米學等。

泰勒Surtronic S-116粗糙度儀經(jīng)銷

一、Surtronic S-116標準配置:
顯示單元;112-1502標準測針;測針連接線;多刻線樣板;測針提升機構(gòu);USB接口充電器;使用手冊;USB通訊電纜;儀器箱

二、Surtronic S-116技術(shù)參數(shù)
數(shù)據(jù)顯示 ：
顯示屏每頁顯示7個測試結(jié)果，屏幕上可顯示輪廓圖（剖面圖）
可以打印測試結(jié)果和圖形
使用Talyprofile軟件可以連接電腦，分析測試結(jié)果
數(shù)據(jù)存儲：
儀器可以存儲100個測試數(shù)據(jù)和一個圖形
儀器支持U盤zui大4G，zui多可存儲39,000個圖形，每批可存儲10萬個測試結(jié)果，共70批數(shù)據(jù)。
使用Talyprofile軟件與電腦連接可以存儲無限數(shù)據(jù)。
電源：
充電器 ：USB接口5v 1A 110-240VAC 50/60Hz
充電時間：4小時
電池壽命：充電一次可以做2000次測試
待機時間：5000小時
由待機狀態(tài)到開機測試狀態(tài)，zui長時間不超過1秒I
自動關機：30秒– 6小時可以自行設置

三、Surtronic S-116技術(shù)指標：
測量范圍：200 um 100 um 10 um
分辨率：  100 nm 20 nm 10 nm
底噪(Ra)：250 nm 150 nm 100 nm
重復精度 (Ra) ：1%測試值+底噪
傳感器原：電感
測量力：150-300mg
測針針尖半徑：標配5 μm (200 μin) 可選2μm(80μin)或10μm(400μin)
測試方式：滑動掃描
校準：
自動軟件校準   標準：ISO4287

四、Surtronic S-116測試參數(shù)：
三個取樣長度：0.25mm、0.8mm、2.5mm
二個濾波器：2CR、Gaussian
評定長度：0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可選
zui大行程：17.5mm
測試速度：
測試速度：1mm/sec(0.04 in/sec)
回程速度：1.5mm/sec(0.06in/sec)
測試參數(shù)：
執(zhí)行標準：ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007
ISO標準可以測量12個參數(shù)： Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max
ASME標準可以測量11個參數(shù)：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda
JIS標準可以測量14個參數(shù)：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc
其他 ：R3z (Daimler Benz)
測試單位：um/uin

五、Surtronic S-116可選附件
測試平臺：
00級大理石平板：400X250X70mm
有效高度：280mm。
可調(diào)Y軸V型鐵
可調(diào)范圍：±5mm
V型鐵長度100mm

篤摯儀器（上海）有限公司
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