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X-RAY XAN310熒光射線材料分析及鍍層測(cè)厚儀 FISCHERSCOPEB X-RAY XAN 310高性價(jià)比的緊湊入門級(jí)X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀，用于快速、無損分析鍍層厚度及合金成分FISCHERSCOPE X-RAY XAN 310是一款X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀，特別適用于基本鍍層厚度及合金成分的無損分析。 -
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Fischer X-RAY XUV773 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀 FISCHERSCOPE X-RAY XUV儀器配有一個(gè)可抽真空的大型測(cè)量箱。其所裝備的大面積硅漂移探測(cè)器能夠探測(cè)低至1 keV的熒光輻射能量，從而能夠有效地測(cè)量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni的L輻射。
